變頻式互感器綜合測(cè)試儀，也被稱為變頻互感器綜合檢測(cè)儀或變頻互感器特性綜合測(cè)試儀，主要用于檢測(cè)電流互感器(CT)和電壓互感器(PT)的各項(xiàng)性能指標(biāo)。它結(jié)合了高性能的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)和現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列技術(shù)(FPGA)，通過(guò)優(yōu)良的制造工藝打造而成，具有性能穩(wěn)定可靠、功能多且自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)。
它通常由一臺(tái)電腦、一臺(tái)放大器、一臺(tái)互感器和一臺(tái)變頻器組成。當(dāng)變頻器運(yùn)行時(shí)，會(huì)產(chǎn)生輸出信號(hào)，這種信號(hào)被放大器放大后，再經(jīng)過(guò)互感器。互感器可以將輸出信號(hào)分割成一個(gè)高頻信號(hào)和一個(gè)低頻信號(hào)，然后將這兩個(gè)信號(hào)輸入電腦中。電腦根據(jù)這兩個(gè)信號(hào)的差異，就可以計(jì)算出變頻器的輸出頻率、電能量、電壓和電流等參數(shù)。
變頻式互感器綜合測(cè)試儀具有多種測(cè)試功能，包括但不限于：
伏安特性測(cè)試：用于測(cè)試互感器的伏安特性曲線。
變比測(cè)試：測(cè)量互感器的變比，即一次側(cè)與二次側(cè)電流或電壓的比值。
極性判別：判斷互感器的極性是否正確。
誤差曲線測(cè)試：如5%和10%誤差曲線，用于評(píng)估互感器在不同電流或電壓下的誤差情況。
退磁功能：用于消除互感器鐵心中的剩磁。
一次通流測(cè)試：測(cè)試互感器在一次側(cè)通流時(shí)的性能。
相位測(cè)量(角差)：測(cè)量互感器輸出信號(hào)的相位差。
比差測(cè)量：測(cè)量互感器輸出信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的比值差。
此外，它還可以測(cè)量二次繞組電阻、二次負(fù)荷、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)等參數(shù)，以及進(jìn)行飽和及不飽和電感等測(cè)試。
變頻式互感器綜合測(cè)試儀的技術(shù)特點(diǎn)：
強(qiáng)大輸出能力：選配專用升流器后，可輸出高達(dá)數(shù)百安的電流，滿足現(xiàn)場(chǎng)通流測(cè)試需求。
變頻法測(cè)試：基于優(yōu)良的變頻法測(cè)試CT/PT伏安特性曲線和誤差曲線，以低電壓、小電流應(yīng)對(duì)高拐點(diǎn)電壓的互感器測(cè)試。
自動(dòng)參數(shù)計(jì)算：自動(dòng)給出拐點(diǎn)電壓/電流、誤差曲線等關(guān)鍵參數(shù)。
簡(jiǎn)便測(cè)試流程：一鍵完成多項(xiàng)測(cè)試，采用統(tǒng)一接線方式，簡(jiǎn)化操作流程。
大容量存儲(chǔ)：內(nèi)置大容量存儲(chǔ)介質(zhì)，可存儲(chǔ)數(shù)萬(wàn)組測(cè)試數(shù)據(jù)，掉電不丟失。
變頻式互感器綜合測(cè)試儀的使用注意事項(xiàng)：
在使用前，應(yīng)確保測(cè)試儀可靠接地，以防止觸電事故。
在測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)遵循所有安全規(guī)程，特別是在高壓區(qū)域進(jìn)行測(cè)試時(shí)。
測(cè)試完成后，應(yīng)及時(shí)將測(cè)試儀調(diào)零，并斷開(kāi)電源。
在測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)注意觀察測(cè)試儀的顯示和報(bào)警信息，以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)和處理問(wèn)題。
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